 |
TAOYUAN, Taiwan, 24 April 2017 /PRNewswire/ -- Chroma ATE Inc., pembekal utama dunia bagi Peralatan Ujian dan Pengukuran yang tepat, Sistem Ujian Automatik, Sistem Pembuatan Pintar, Penyelesaian Ujian dan Pengautomatan Siap Guna, baru-baru ini memperkenalkan penyelesaian ujian semikonduktor terkini untuk pasaran IC IoT.
Chroma 3680 ialah sistem ujian SoC canggih yang mempunyai kadar data sehingga 1Gbps. Chroma 3680 mampu menjalankan ujian selari pada beberapa cip demi memenuhi keperluan pengujian IC digital dan analog, menerusi aplikasi termasuk MCU, audio digital, TV digital, kotak atas set, DSP, pemproses rangkaian, lokasi gerbang boleh atur cara lapangan (FPGA) dan juga barangan elektronik pengguna.
Baru sahaja dibangunkan tahun ini, Kad IO Digital PXIe Chroma 33010 menyediakan fungsi ujian automatik yang berasaskan seni bina PXIe agar dapat memenuhi permintaan tinggi pengujian PXI dengan cemerlang. Bagi memenuhi keperluan saluran IC yang lebih kecil dan fungsi ujian yang semakin rumit khususnya untuk IoT dan IC elektronik automotif, seni bina PXI/PXIe dalam pengujian semikonduktor menawarkan kelebihan tiada tandingan dari segi kepelbagaian dan keanjalan, termasuk pengujian MCU, MEMS, RF IC dan PMIC. Ia juga boleh dipindahkan ke Chroma 3380D (256 saluran) dan Chroma 3380P (512 saluran) bagi tujuan pengeluaran besar-besaran memandangkan kedua-duanya mempunyai persamaan yang tinggi dari segi perisian dan perkakasan.
Pengendali SLT Tiga-Suhu Chroma 3260 dilengkapi dengan fungsi DTC (Kawalan Suhu Dinamik) menerusi teknologi Nitro TEC utama, yang dapat menyokong prestasi suhu yang lebih cemerlang dalam julat antara -40°C hingga 125°C dengan +/- 1°C ketepatan. Ia sesuai untuk ujian-ujian selari pada beberapa papan modul, manakala soket ujian terbenam dapat memuatkan pelbagai jenis pakej (QFP, TQFP, μBGA, PGA dan CSP). Chroma 3260 (Tiga-Suhu) dapat mengubah kit secepat menukar DUT (Peranti Dalam Ujian) berbeza bagi mengurangkan masa henti dengan ketara serta meningkatkan kecekapan. Aplikasi-aplikasi yang terlibat termasuk komponen-komponen IC untuk IoV (Internet Kenderaan) dan industri pengkomputeran awan.
Pengendali Tapak Tunggal Atas Meja Chroma 3111 direka bentuk untuk pengujian fungsi sistem khususnya semasa fasa eksperimen kejuruteraan. Ia mempunyai keupayaan ujian terminal elektrik bagi menyokong pelbagai saiz wafer berpakej, bermula daripada saiz 5x5mm hingga 45x45mm. Chroma 3111 akan menjadi pilihan terbaik untuk mengurangkan masa dan kos dengan berkesan semasa fasa eksperimen kejuruteraan disebabkan oleh ciri saiznya yang kecil (ruang sebesar 60cm2 ).
Peralatan ujian semikonduktor Chroma yang disepadukan dengan penguji MP5800 RF ATE dapat menampung julat ujian 6GHz dan menyediakan port 4/8 RF dengan lebar jalur 120MHz. Aplikasi-aplikasinya termasuk WiFi, BT, GPS, IC ketersambungan IoT yang lain dan komponen-komponen RF (PA / LNA / Penukar, dll.) bagi memenuhi keperluan sejumlah penyelesaian ujian RF/Digital ATE (CP/FT/SLT).
Penyelesaian ujian semikonduktor Chroma turut menyediakan pelbagai pilihan perisian untuk aplikasi pengujian berbeza.
Maklumat Perhubungan Produk:
CHROMA ATE INC. (IBU PEJABAT), Tel: +886-3-3279999
CHROMA ATE, INC. (U.S.A.), Tel: +1-949-421-0355; Talian Bebas Tol +1-800-478-2026
CHROMA ATE EUROPE B.V., Tel: +31-318-648282
CHROMA ATE GERMANY, Tel: +49-821-790967-0
CHROMA JAPAN CORP, Tel: +81-45-542-1118
CHROMA ELECTRONICS (SHENZHEN) CO., LTD., Tel: +86-755-2664-4598
QUANTEL PTE LTD., Tel: +65-6745-3200
info@chromaate.com
www.chromaate.com
Logo - http://photos.prnasia.com/prnh/20170306/8521701415LOGO
